6-7 czerwca 2024 r.
Enea Stadion, Poznań

W ROKU JUBILEUSZU 105-LECIA STOWARZYSZENIA ELEKTRYKÓW POLSKICH

Wojciech Stęplewski

dr inż. Wojciech Stęplewski – Posiada wieloletnie doświadczenie w zarządzaniu projektami krajowymi, międzynarodowymi i zespołami ludzkimi. Prezes Oddziału Elektroniki, Informatyki, Telekomunikacji Stowarzyszenia Elektryków Polskich oraz Przewodniczący Sekcji Elektroniki i Radiotechniki SEP. Lider Grupy Badawczej Obwodów Drukowanych i Montażu w Centrum Zaawansowanych Technologii, Wieloletni Kierownik Zakładu Podłoży Montażowych w Centrum Zaawansowanych Technologii, Kierownik d/s. Technicznych w Laboratorium Badania Jakości i Wzorcowania Wyrobów Elektronicznych oraz pracownik naukowy.

Kierownik lub wykonawca projektów badawczo-rozwojowych. Realizuje projekty m.in. dla Europejskiej Agencji Kosmicznej, projekty celowe dotyczące technologii obwodów drukowanych, montażu elektronicznego, technologii integracji elementów biernych i półprzewodnikowych struktur GaN z płytkami obwodów drukowanych. Zdobyte doświadczenie i kwalifikacje: inspektor ds. oceny jakości elektroniki w zastosowaniach kosmicznych w laboratoriach ESA-ESTEC w Nordwijk (Netherlnds) i Istituto Italiano della Saldatura Genua/Mediolan (Italy). Autor i współautor ponad 80 publikacji i 13 patentów.

Aktywnie uczestniczy w agendach związanych z nowoczesnymi technologiami i innowacyjnością oraz współpracuje z szeroko rozumianym otoczeniem gospodarczym. Ekspert w zakresie technologii obwodów drukowanych, technologii montażu w elektronice, zagadnień niezawodności zespołów elektronicznych, kontroli jakości, inżynierii materiałowej. Posiada doświadczenie w badaniach i wytwarzaniu rezonatorów kwarcowych, czujników (wodór, gazy, spektrometria, wagi kwarcowe), drukowanej, elastycznej i organicznej elektroniki, systemów identyfikacji radiowej RFID. Specjalista w praktycznym wykorzystaniu technologii wysokiej próżni, technologii laserowej. Zajmuje się również zagadnieniami zarządzania ciepłem w zespołach elektronicznych, badaniami SEM/EDX, rentgenowskimi, spektroskopii FTIR, Raman, XRF oraz materiałografią.

Scroll to Top